广东电池串检测系统价格

发光成像方法为太阳电池缺点检测提供了一种非常好的解决方案，这种检测技术使用方便，类似的二维化面检测。本文讨论的是光致发光技术在检测晶体Si太阳电池上的应用。光致发光(photoluminescence，PL)检测过程大致包括激光被样品吸收、能量传递、光发射及CCD成像四个阶段。通常利用激光作为激发光源，提供一定能量的光子，Si片中处于基态的电子在吸收这些光子后而进入激发态，处于激发态的电子属于亚稳态，在短时间内会回到基态，并发出以1150 nm的红外光为波峰的荧光。利用冷却的照相机镜头进行感光，将图像通过计算机显示出来。发光的强度与本位置的非平衡少数载流子的密度成正比，而缺点处会成为少数载流子的强复合中心，因此该区域的少数载流子密度变小导致荧光效应减弱，在图像上表现出来就成为暗色的点、线，或一定的区域，而在电池片内复合较少的区域则表现为比较亮的区域。因此，通过观察光致发光成像能够判断Si片或电池片是否存在缺点。检测，就选上海欧普泰科技创业股份有限公司，有想法的可以来电咨询！广东电池串检测系统价格

近年来，光伏产业发展迅猛，提高效率和降低成本成为整个行业的目标。在晶体Si太阳电池的薄片化发展过程中，出现了许多严重的问题，如碎片、电池片隐裂、表面污染、电极不良等，正是这些缺点限制了电池的光电转化效率和使用寿命。同时，由于没有完善的行业标准，Si片原材料质量也是参差不齐，一些缺点片的存在直接影响到组件乃至光伏系统的稳定性。因此，太阳能行业需要有快速有效和准确的定位检验方法来检验生产环节可能出现的问题。产品瑕疵检测仪上海欧普泰科技创业股份有限公司是一家专业提供检测的公司，欢迎您的来电哦！

传统的检查判断方式如何判断太阳能组件的好坏1、看表面仔细查看钢化玻璃表面，一般小厂家为了提高生产速度，往往不在意无意间滴落在钢化玻璃表面的。不的话会降低电池板的发电效率。2、看电池片3、看背面看背面承压的质量，承压后有没有不平整的情况出现，如气泡、褶皱之类的。4、看边框由于太阳能电池板行业进入门槛低，很多小厂家采用人工打框的方式，人工打框由于每次打框的力度不均，打好的框接触紧密程度也不一，造型不成严格的矩形，牢固程度也大打折扣。5、看看背面四周是否均匀分布，是否紧密渗入背板和边框的缝隙。6、看焊接仔细观察电池片的串焊有无漏焊现象。同时也要看下电池片排列是否规整。7、看接线盒看接线盒是否牢固，接线盒盖子是否能牢靠、紧密地贴在接线盒上;看出线电线锁头是否旋转自如，能否收紧。

电位诱发衰减效应是电池组件长期在高电压作用下，使玻璃、封装材料之间存在漏电流，大量电荷狙击在电池片表面，使得电池表面的钝化效果恶化，导致组件性能低于设计标准。PID现象严重时，会引起一块组件功率衰减50%以上，从而影响整个组串的功率输出。一是系统设计原因：光伏电站的防雷接地是通过将方阵边缘的组件边框接地实现的，这就造成在单个组件和边框之间形成偏压，组件所处偏压越高则发生PID现象越严重。对于P型晶硅组件，通过有变压器的逆变器负极接地，消除组件边框相对于电池片的正向偏压会有效的预防PID现象的发生，但逆变器负极接地会增加相应的系统建设成本;二是光伏组件原因：高温、高湿的外界环境使得电池片和接地边框之间形成漏电流，封装材料、背板、玻璃和边框之间形成了漏电流通道。通过使用改变绝缘胶膜乙烯醋酸乙烯酯(EVA)是实现组件抗PID的方式之一，在使用不同EVA封装胶膜条件下，组件的抗PID性能会存在差异。三是电池片原因：电池片方块电阻的均匀性、减反射层的厚度和折射率等对PID性能都有着不同的影响。上述引起PID现象的三方面中，由在光伏系统中的组件边框与组件内部的电势差而引起的组件PID现象被行业所公认。上海欧普泰科技创业股份有限公司为您提供检测，有需求可以来电咨询！

2016年开年光伏电站大爆发，各处均在抢建光伏电站，在政策调整前加装抢装，然而随着光伏电站的增多，随之而来的质量问题又再次困扰着大家，由于技术及其问题在厂家组件质量，运输组件是否损坏，安装施工是否出错之间相互推诿，究其原因在于缺乏一套规范的检测流程，EL测试常见缺陷分析也与时俱进。EL测试的过程即晶体硅太阳电池外加正向偏置电压，直流电源向晶体硅太阳电池注入大量非平衡载流子，太阳电池依靠从扩散区注入的大量非平衡载流子不断地复合发光，放出光子，也就是光伏效应的逆过程;再利用ccd相机捕捉到这些光子，通过计算机进行处理后以图像的形式显示出来，整个过程都在暗室中进行。上海欧普泰科技创业股份有限公司致力于提供检测，欢迎您的来电哦！天津光伏检测仪器价格

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另外通过EL图像明暗关系还可以反映电池或组件制备工艺缺点，例如断栅片、暗片、黑片等。电池断栅主要是由印刷不良或烧结时磨损造成，断栅处不能有效收集电池载流子。暗片一般是由于电池分选不当，低效片混入正常片中，次的电池片在组件工作过程中不能充分发挥其发电能力，从而造成浪费，甚至引起组件发热。组件中的黑片可能是由于焊接失效或电池片无功率造成，在使用过程中容易引起热斑。此外，通过EL测试还能表征组件使用过程中的失效缺点，例如二极管击穿缺点、PID缺点等。广东电池串检测系统价格